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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業(yè)迅速發(fā)展首頁-產(chǎn)品展示-智能裝備解決方案-手機行業(yè)檢測設備-MINLMJ-100手機CSP芯片組件外觀檢測機
產(chǎn)品型號:MINLMJ-100
簡要描述:手機CSP芯片組件外觀檢測機利用光學檢測原理,用程序對CCD成像照片進行分析,實現(xiàn)對芯片組件的表面進行檢測的結果,實現(xiàn)自動檢測,自動取放的功能。設備運行穩(wěn)定,可對芯片組件外觀瑕疵進行正確識別和判斷,代替人工在顯微鏡下進行檢測的方案,幫助芯片組件廠商提高品質效率,降低運行成本
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品牌 | SOPTOP/舜宇 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
---|---|---|---|
應用領域 | 電子,電氣,綜合 |
手機CSP芯片組件外觀檢測機利用光學檢測原理,用程序對CCD成像照片進行分析,實現(xiàn)對芯片組件的表面進行檢測的結果,實現(xiàn)自動檢測,自動取放的功能。設備運行穩(wěn)定,可對芯片組件外觀瑕疵進行正確識別和判斷,代替人工在顯微鏡下進行檢測的方案,幫助芯片組件廠商提高品質效率,降低運行成本
該設備主要用于實現(xiàn)手機攝像模組CSP組件外觀全自動檢查,CSP組件來料采用注塑料盤形式,采用堆疊式上下料形式,通過機器自動檢測,實現(xiàn)OK/NG快速分揀。
1. 硬件參數(shù)
項目 | 數(shù)據(jù) |
外型尺寸(長*寬*高 ) | 2100*1510*2100mm(長*寬*高) |
設備總質量 | 2000KG |
輸入電源 | AC220V |
設備功率 | 6500W |
空氣源(壓力) | 0.5Mpa |
上料Z軸重復定位精度 | ±0.05mm |
檢測流轉Z軸重復定位精度 | ±0.02mm |
檢測流轉Y軸重復定位精度 | ±0.01mm |
檢測模塊X軸重復定位精度 | ±0.01mm |
檢測模塊Z軸重復定位精度 | ±0.02mm |
中轉緩存X軸重復定位精度 | ±0.01mm |
中轉緩存Y軸重復定位精度 | ±0.01mm |
分揀流轉Y軸重復定位精度 | ±0.01mm |
分揀流轉Z軸重復定位精度 | ±0.02mm |
分揀X軸重復定位精度 | ±0.01mm |
分揀Z軸重復定位精度 | ±0.02mm |
下料Z軸重復定位精度 | ±0.05mm |
3.適用載具
本設備對市場上主流的76×76mm;101.6×101.6mm可適用。
4.檢測能力
1.可檢項目:
a.芯片正面,玻璃上下表面白點,污點,劃傷,臟污,玻璃邊緣崩缺,溢膠,切割偏移
分層,影像區(qū)彩虹橫條紋或斜條紋等缺陷;
b.產(chǎn)品擺盤方向;
c.產(chǎn)品外形特征,識別混料。
核心指標 | |
視野 | 15mm×20mm |
漏檢率 | 玻璃類:漏檢率<500PPM(0.5‰) 方向類:漏檢率<100PPM(0.1‰) |
過檢率 | 玻璃類:過檢率<5% 方向類:過檢率<1% |
UPH | ≥15000(CSP 一次良率90%),≥13500(CSP 一次良率85%)(按包裝板產(chǎn)品顆數(shù)需≥100參照評估) |
可檢機種 | CSP/COM機種 |
吸嘴支持 | 可以適用于4.5×4.5mm以上的組件產(chǎn)品。 |
料盤支持 | 76mm*76mm和101.6mm*101.6mm料盤 |
漏檢率=漏檢數(shù)/投檢數(shù)×100% | |
備注: 4.設備根據(jù)灰度差異進行缺陷檢測,當不同缺陷呈現(xiàn)同類灰度形貌時,將無法區(qū)分缺陷種類。 |
5.可檢機種
手機CSP芯片組件外觀檢測機可檢機種包括:CSP/COM機種。
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型號:MINLMJ-100
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